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2024-11-16
2024-11-16
2024-11-14
2024-10-19
2024-10-19
原裝現(xiàn)貨 USHIO牛尾 紫外線照度計能量計UIT-250紫外線光量計是光照度測量儀，可選配UVD-S254分體式或UVD-C254一體式探頭,測量波長220-310nm、UVD-S365或UVD-C...
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原裝USHIO牛尾 紫外線照度計能量計UIT-250紫外線光量計是光照度測量儀，可選配UVD-S254分體式或UVD-C254一體式探頭,測量波長220-310nm、UVD-S365或UVD-C365...
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池田屋現(xiàn)貨YAMADA 表面瑕疵檢查燈根據(jù)具體要求可以選擇黃光和白光兩種光源 可檢測各種缺陷 如硅片 砷化鎵 碳化硅等半導(dǎo)體晶片及液晶基板表面的異物 劃痕 拋光不均 霧狀 劃傷等
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原裝YAMADA山田光學(xué) 表面瑕疵檢查燈根據(jù)具體要求可以選擇黃光和白光兩種光源 可檢測各種缺陷 如硅片 砷化鎵 碳化硅等半導(dǎo)體晶片及液晶基板表面的異物 劃痕 拋光不均 霧狀 劃傷等
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現(xiàn)貨日本YAMADA山田光學(xué) 表面瑕疵檢查燈根據(jù)具體要求可以選擇黃光和白光兩種光源 可檢測各種缺陷 如硅片 砷化鎵 碳化硅等半導(dǎo)體晶片及液晶基板表面的異物 劃痕 拋光不均 霧狀 劃傷等
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原裝供貨YAMADA山田光學(xué) 表面瑕疵檢查燈根據(jù)具體要求可以選擇黃光和白光兩種光源 可檢測各種缺陷 如硅片 砷化鎵 碳化硅等半導(dǎo)體晶片及液晶基板表面的異物 劃痕 拋光不均 霧狀 劃傷等。
查看詳情池田屋現(xiàn)貨YAMADA山田光學(xué) 表面檢查燈根據(jù)具體要求可以選擇黃光和白光兩種光源 可檢測各種缺陷 如硅片 砷化鎵 碳化硅等半導(dǎo)體晶片及液晶基板表面的異物 劃痕 拋光不均 霧狀 劃傷等。
查看詳情日本原裝YAMADA山田光學(xué) 劃痕表面檢查燈根據(jù)具體要求可以選擇黃光和白光兩種光源 可檢測各種缺陷 如硅片 砷化鎵 碳化硅等半導(dǎo)體晶片及液晶基板表面的異物 劃痕 拋光不均 霧狀 劃傷等
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日本YAMADA山田光學(xué) 半導(dǎo)體晶片照明燈根據(jù)具體要求可以選擇黃光和白光兩種光源 可檢測各種缺陷 如硅片 砷化鎵 碳化硅等半導(dǎo)體晶片及液晶基板表面的異物 劃痕 拋光不均 霧狀 劃傷等
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